Мониторинг цен в электронной форме на Слитки танталовые, изготовленные двойным электронно-лучевым переплавом (#57753798)
Стать клиентом Регион проведения тендера: УдмуртияОрганизатор торгов: Акционерное общество "Чепецкий механический завод" (ИНН 1829008035)
Полная информация по тендеру закрыта
Полная информация доступна только для подписчиков портала.
Стать подписчиком »
| Наименование процедуры |
мониторинг цен в электронной форме на Слитки танталовые, изготовленные двойным электронно-лучевым переплавом |
| Организатор |
Акционерное общество "Чепецкий механический завод" (ИНН 1829008035) |
| ФИО |
Шихов Александр Анатольевич |
| Телефон |
7-34141-91921 |
|
AAShikhov@rosatom.ru |
|
| Способ проведения |
Мониторинг цен |
| Электронная площадка |
ГК «Росатом», atom2.roseltorg.ru |
Лоты
_
0,00
ЅОбеспечение заявки:
не предусмотреноОбеспечение контракта:
не предусмотрено| Публикация извещения |
02.11.21 09:19:25 (МСК) |
| Приём заявок |
до 09.11.21 23:59:59 (МСК) |
Документы
- Технические характеристики
- Технические характеристики
Источник тендера:
только для подписчиков »
Источник тендера:
только для подписчиков »
Другие тендеры за этот временной период
Мониторинг цен в электронной форме на на оказание юридических услуг по поддержанию в силе патентов зарубежных странМониторинг цен в электронной форме на Услуги по экспертизе рабочей конструкторской документации аппаратуры контроля нейтронного потока АКНП-03 и услуги по экспертизе технических требований на применение импортных комплектующих изделий (ИКИ) в составе оборудования для АЭС
Мониторинг цен в электронной форме на Мониторинг рынка цен по расчёту НМЦ № 338051 "гидроизоляционные материалы"
Мониторинг цен в электронной форме на Разработка ремонтной документации для устройства заполнения мешков
Мониторинг цен в электронной форме на Приобретении услуг по диагностированию состояния оборудования АО «УЭХК» с сопутствующим исследованием механических свойств.
Открытый запрос котировок в электронной форме на Право заключения договора на поставку частей запасных и принадлежностей приборов спектральных
